单晶硅下打光长脉宽组件测试

单晶硅下打光长脉宽组件测试

一、设备功能

适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。

二、设备特点

采用二次大电容电源及直管氙灯，光源稳定，采用专业设计的滤光片，光谱达到A 级（87.5%-112.5%），长脉宽10-200ms单次闪光可调，可测试大组件2600mm?1600mm，下打光平台式设计，便于操作。

光照辐度可调200-1200W/㎡，可测试不同光照辐度下的电池性能，专业的控制及数据采集系统，确保数据的准确性和系统稳定性，多项电性参数和I-V及P-V曲线；定点电压处的电流与功率显示，红外测温，自动温度校正。

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